故障測試 HIT-5000 LSI 抗擾度測試儀介紹

發(fā)布日期：2021-12-20      瀏覽次數(shù)：1541

故障測試 HIT-5000 LSI 抗擾度測試儀介紹



使用 TLP（傳輸線脈沖）的設(shè)備的抗擾度測試儀。 使用ESD槍的IEC64000-4-2對應設(shè)備的抗擾度測試儀很常見，但是當它到達LSI時，它變成了振動波形，結(jié)果，由于振動而向正方向擺動時會發(fā)生故障。是在負方向擺動時無法區(qū)分故障和故障的問題。 在該測試儀中，通過將矩形波直接施加到低阻抗 LSI 的引腳，可以區(qū)分正負故障。 通過使用可選的同步單元，可以很好地再現(xiàn)故障事件。 例如，在 CPU 的情況下，通過在 ROM / RAM / IO 訪問的時間應用脈沖噪聲，可以在每個時間進行抗擾度測試。 此外，方波易于建模為模擬信號源，并有望作為分析工具。 如下圖所示，將連接器插入電源或GND線，連接應用探頭，設(shè)置應用電壓和應用次數(shù)。圖中，過濾器在外部，過濾器的正面在設(shè)備內(nèi)部。由于該設(shè)備沒有檢測 LSI 故障的功能，因此需要采取一些措施，通過在被測設(shè)備上安裝監(jiān)視器 LED 來檢測故障。 使用同步單元時，需要將來自LSI的同步信號輸入到同步單元中。